點(diǎn)擊查看：2015計(jì)算機(jī)三級(jí)軟件測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)常見問題匯總

　　什么是V(或者W模型)，它的特點(diǎn)是什么?

　　V模型是軟件測(cè)試的一個(gè)基礎(chǔ)應(yīng)用模型，包括了軟件開發(fā)和軟件測(cè)試的兩個(gè)階段，并且兩個(gè)階段是串行的，V模型的左邊是：需求分析、概要設(shè)計(jì)、詳細(xì)設(shè)計(jì)、編碼;右邊包括：“單元測(cè)試”、“集成測(cè)試”、“系統(tǒng)測(cè)試”、“確認(rèn)測(cè)試”和“驗(yàn)收測(cè)試”。

　　V模型的特點(diǎn)：

　　①.測(cè)試對(duì)象是程序本身

　　②.實(shí)際應(yīng)用中容易導(dǎo)致需求階段的錯(cuò)誤一直到最后系統(tǒng)測(cè)試階段才被發(fā)現(xiàn)

　　③.測(cè)試深度高

　　④.評(píng)審深度低

　　什么是敏捷開發(fā)和敏捷測(cè)試?他們的特點(diǎn)是什么?

　　敏捷開發(fā)：敏捷開發(fā)是一種以人為核心、迭代、循序漸進(jìn)的開發(fā)方法。在敏捷開發(fā)中，軟件項(xiàng)目的構(gòu)建被切分成多個(gè)子項(xiàng)目，各個(gè)子項(xiàng)目的成果都經(jīng)過測(cè)試，具備集成和可運(yùn)行的特征。換言之，就是把一個(gè)大項(xiàng)目分為多個(gè)相互聯(lián)系，但也可獨(dú)立運(yùn)行的小項(xiàng)目，并分別完成，在此過程中軟件一直處于可使用狀態(tài)。

　　軟件開發(fā)的生命周期是什么?

　　軟件的開發(fā)生命周期包括：需求分析à系統(tǒng)設(shè)計(jì)à軟件編碼à運(yùn)營(yíng)維護(hù)

　　軟件測(cè)試的生命周期(過程、流程)是什么?

　　軟件測(cè)試生命周期包括：測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試設(shè)計(jì)、測(cè)試開發(fā)、測(cè)試評(píng)估、測(cè)試報(bào)告、缺陷跟蹤。

　　什么是軟件測(cè)試?

　　軟件測(cè)試是通過手工或自動(dòng)化的手段運(yùn)行或測(cè)定被測(cè)對(duì)象是否滿足所對(duì)應(yīng)的需求;被測(cè)對(duì)象包括需求分析、設(shè)計(jì)規(guī)格說明書，系統(tǒng)編碼等;在測(cè)試過程中，要根據(jù)相應(yīng)的規(guī)格說明書設(shè)計(jì)一組測(cè)試用例，通過對(duì)測(cè)試用例的執(zhí)行來發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)中相應(yīng)的錯(cuò)誤保證軟件質(zhì)量的一項(xiàng)活動(dòng)。

　　軟件生命周期是什么?

　　①.項(xiàng)目規(guī)劃

　　②.需求定義分析

　　③.軟件設(shè)計(jì)

　　④.程序編碼

　　⑤.軟件測(cè)試

　　⑥.運(yùn)行維護(hù)

　　軟件測(cè)試目的是什么?

　　①.發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)的錯(cuò)誤

　　②.驗(yàn)證系統(tǒng)是否滿足需求

　　③.保障產(chǎn)品質(zhì)量

　　④.改進(jìn)開發(fā)進(jìn)程

　　軟件缺陷(bug)與軟件錯(cuò)誤(error)的區(qū)別和聯(lián)系?

　　區(qū)別：軟件缺陷是存在于軟件之中的不希望或者不可接受的偏差，而軟件錯(cuò)誤是由于人為的原因產(chǎn)生的錯(cuò)誤。缺陷是在軟件中抽象存在的，而錯(cuò)誤是人的行為問題。

　　聯(lián)系：由于人的錯(cuò)誤行為，在設(shè)計(jì)或者編碼過程中的失誤，導(dǎo)致了軟件內(nèi)部的缺陷。人為錯(cuò)誤是引發(fā)軟件缺陷的直接原因。一個(gè)軟件錯(cuò)誤必定引發(fā)一個(gè)或多個(gè)軟件缺陷。

　　相關(guān)推薦：

　　2014年9月計(jì)算機(jī)等考答案專題| 等考真題 | 答案交流

　　2014年9月等考成績(jī)查詢時(shí)間 | 查分免費(fèi)提醒 | 合格標(biāo)準(zhǔn)

　　2015計(jì)算機(jī)等考報(bào)考指南專題 | 2015等考報(bào)名時(shí)間預(yù)測(cè)