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統(tǒng)計(jì)學(xué)

　　1.總體，樣本，誤差(系統(tǒng)、隨機(jī)測(cè)量、抽樣)，概率，變量和變量值。

　　2.概率P：0～1之間，P≤0.05或<0.01稱小概率事件。

　　3.實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)是整個(gè)研究工作的基礎(chǔ)。

　　4.計(jì)量資料：數(shù)值。計(jì)數(shù)資料：性質(zhì)。

　　5.組數(shù)在8～15之間。

　　6.集中趨勢(shì)：算術(shù)平均數(shù)(總體均數(shù)μ，樣本均數(shù)X拔)，幾何均數(shù)G(倒數(shù)時(shí))，中位數(shù)M(奇數(shù)中間，偶數(shù)中間兩個(gè)平均數(shù))。

　　離散趨勢(shì)：方差(總體方差σ^2，樣本方差S^2，自由度df=n-1)，標(biāo)準(zhǔn)差，變異系數(shù)CV(單位不同或均數(shù)相差較大)

　　7.正態(tài)分布兩個(gè)參數(shù)：均數(shù)μ，標(biāo)準(zhǔn)差σ。

　　標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布：μ=0，σ=1.

　　μ±1.96σ→95%→α=0.05

　　μ±2.58σ→99%→α=0.01

　　8.抽樣誤差的大小：標(biāo)準(zhǔn)誤σX拔，可用樣本均數(shù)標(biāo)準(zhǔn)誤SX拔代替。

　　9.u檢驗(yàn)(z檢驗(yàn))：總體標(biāo)準(zhǔn)差已知，n>50.

　　t檢驗(yàn)：總體標(biāo)準(zhǔn)差未知，n<50，配對(duì)。

　　F檢驗(yàn)：方差分析。

　　10.無(wú)效假設(shè)H0：μ=μ0;備擇假設(shè)H1：μ≠μ0.

　　P：H0出現(xiàn)的概率。

　　11.t<1.96→P>α5%→不拒絕H0→無(wú)統(tǒng)計(jì)學(xué)意義

　　t>1.96→P<α5%→拒絕H0，接受H1→有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義

　　12.構(gòu)成比之和為100%，影響其他。

　　率不能影響其他。總體率π，樣本率P.

　　13.樣本率與總體率比較的u檢驗(yàn)：u=│P-π│/σP

　　兩個(gè)樣本率比較的u檢驗(yàn)：u=│P1-P2│/SP

　　13.χ^2檢驗(yàn)：卡方檢驗(yàn)，H0：π1=π2，H1：π1≠π2.

　　14.相關(guān)系數(shù)r：-1≤r≤1，正負(fù)取決于Lxy.

　　15.直線回歸方程：Y=a+bX.b為回歸系數(shù)。

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